ZEISS三坐標(biāo)實(shí)現(xiàn)流水線全檢的工業(yè)CT解決方案

時(shí)間：2018-09-30作者：昆山友碩新材料有限公司瀏覽：139

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• ZEISS三坐標(biāo)實(shí)現(xiàn)流水線全檢的工業(yè)CT解決方案

  工業(yè)產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)隨著制造工藝的提高和產(chǎn)品性能的升級(jí)越來(lái)越復(fù)雜，如今ZEISS三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)或視覺(jué)系統(tǒng)傳統(tǒng)的測(cè)量方案已經(jīng)無(wú)法滿(mǎn)足其需求。目前工業(yè)界越來(lái)越受歡迎的解決方案為工業(yè)CT（計(jì)算機(jī)斷層掃描），主要因?yàn)闊o(wú)損的探測(cè)及測(cè)量的優(yōu)勢(shì)。目前來(lái)說(shuō)，多數(shù)市面上的工業(yè)CT產(chǎn)品測(cè)量效率比較低，每工件測(cè)量時(shí)間需要20分鐘或者到幾個(gè)小時(shí)也有可能，所以應(yīng)用起來(lái)也有局限性，只能在實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)品或小規(guī)模抽樣檢測(cè)中使用。 如今在

• 工業(yè)CT在模具行業(yè)的應(yīng)用

  工業(yè)CT也叫計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)，是利用X射線直接照射到測(cè)試件上，捕獲測(cè)試件內(nèi)部和外部的完整、精確的圖像。其工作原理可以簡(jiǎn)單概括為：從X射線源**出來(lái)的X射線對(duì)在X射線源和檢測(cè)器之間做平移運(yùn)動(dòng)的被檢測(cè)物體進(jìn)行掃描，在一次掃描結(jié)束后，被檢測(cè)物體旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度再進(jìn)行下一次掃描，直至完成整個(gè)工件的掃描，即可得到被檢測(cè)物體的某一斷面的若干組數(shù)據(jù)。 這些信息數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)計(jì)算、處理，重新建立一個(gè)完整的斷面圖像

• 蔡司三坐標(biāo)配件附件通用知識(shí)講解

  工欲善其事必先利其器，接觸式三坐標(biāo)的“器”就是測(cè)針等附件。蔡司三坐標(biāo)的附件種類(lèi)很多，這篇文章著重介紹附件的通用知識(shí) 附件通用知識(shí) I. 螺紋規(guī)格 大家都知道，測(cè)針或延長(zhǎng)桿等附件是通過(guò)螺紋擰緊的。因而在選配附件的使用，一件事情是搞清楚當(dāng)前設(shè)備支持的附件螺紋規(guī)格。 如何查看附件的螺紋規(guī)格？ 下面以測(cè)針的螺紋示意圖作參考 螺紋的規(guī)格和設(shè)備選用的傳感器類(lèi)型有關(guān)，以蔡司設(shè)備為例 1. 配備VAST XT G

• 蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（CMM）的測(cè)量方式分類(lèi)

  大家好，今日小編跟大家分享下，蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)CMM的測(cè)量方式分類(lèi)有哪些？ 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)的測(cè)量方式常見(jiàn)三大分類(lèi)： 1. 接觸式測(cè)量方式 2. 非接觸式測(cè)量方式 3. 接觸與非接觸并用式測(cè)量的測(cè)量方式 其中接觸測(cè)量方式應(yīng)用范圍較為廣泛，常用于機(jī)加工產(chǎn)品、壓制成型產(chǎn)品、金屬膜等測(cè)量。為了分析工件加工數(shù)據(jù)，或?yàn)槟嫦蚬こ烫峁┕ぜ夹畔ⅲ?jīng)常需要用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)對(duì)被測(cè)工件表面進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)掃描。 小編