IEC60068-2-14:2009冷熱沖擊試驗(yàn)在高低溫檢驗(yàn)所受到的影響

時(shí)間：2020-09-14作者：深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：431

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 高低溫試驗(yàn)測(cè)試 高低溫試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

  高低溫試驗(yàn)測(cè)試 高低溫試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)1.高溫試驗(yàn)1.2 高溫試驗(yàn)概念：此試驗(yàn)中試件處于高溫空氣中，但不受到陽(yáng)光直接照射。高溫試驗(yàn)針對(duì)高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動(dòng)機(jī)等熱源處儲(chǔ)藏或使用產(chǎn)品的情形。僅當(dāng)太陽(yáng)輻射試驗(yàn)不能檢驗(yàn)高溫效應(yīng)時(shí)才進(jìn)行這項(xiàng)試驗(yàn)。高溫試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)在高溫環(huán)境中儲(chǔ)藏或使用的性能。高溫試驗(yàn)的目的是確定軍民用設(shè)備在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性。1.2高溫試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/

• 電子設(shè)備高低溫測(cè)試，依據(jù)GB/T 25119-2010

  對(duì)應(yīng)法規(guī)：GB/T 25119-2010CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GB/T25119-2010、IEC60571-2006，其中包含的試驗(yàn)有：高溫試驗(yàn)，低溫試驗(yàn)，低溫貯存，振動(dòng)試驗(yàn)，外殼防水試驗(yàn)，恒定/交變濕熱試驗(yàn)，鹽霧試驗(yàn)，霉菌試驗(yàn)，太陽(yáng)輻射試驗(yàn)等。 試驗(yàn)?zāi)康氖悄M設(shè)備在真實(shí)使用環(huán)境，通過(guò)試驗(yàn)箱條件的控制在較短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)產(chǎn)品的可靠性。主要分為功能性驗(yàn)證和耐久性驗(yàn)證。采用的標(biāo)準(zhǔn)為國(guó)

• 高低溫測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備及試驗(yàn)參數(shù)

  高低溫測(cè)試是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫或低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性的方法。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫或低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。高低溫測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備及試驗(yàn)參數(shù)1。試驗(yàn)設(shè)備高溫試驗(yàn)一般是將產(chǎn)品置于恒溫箱或恒溫室內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn)。介質(zhì)的溫度用溫度計(jì)在不同位置測(cè)定，取其算術(shù)平均值。但要求箱內(nèi)溫度盡可能均勻，通過(guò)熱空氣流動(dòng)加熱產(chǎn)品，不應(yīng)使試驗(yàn)樣品靠近熱源。為減少輻射影響，試驗(yàn)箱的壁溫不應(yīng)**環(huán)境溫度3%。低

• 高低溫測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容

  ? 高溫運(yùn)行（高溫貯存）的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的儲(chǔ)存、使用的適應(yīng)性及耐久性，確認(rèn)材料高溫下的性能，為能正確觀察與驗(yàn)證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng)，同時(shí)避免因濕度效應(yīng)影響試驗(yàn)結(jié)果，標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求，高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可