芯片高低溫測試所需設(shè)備參數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間：2023-07-19作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：42

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

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  詞條說明

• 太陽輻射試驗(yàn)箱/氙燈老化試驗(yàn)箱/紅外燈老化試驗(yàn)箱/紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī)

  太陽輻射試驗(yàn)箱/氙燈老化試驗(yàn)箱/紅外燈老化試驗(yàn)箱/紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī) 主要技術(shù)參數(shù) 溫度范圍 10℃～+70℃（無光照條件） 備注： 1、均在空箱條件下（注明除外），按GB/T5170測試 2、風(fēng)冷型試驗(yàn)箱系在室溫25℃時(shí)且通風(fēng)良好條件下所測試數(shù)據(jù)；當(dāng)35℃≥室溫＞25℃時(shí)，可正常使用，但低溫范圍、降溫速率及熱負(fù)載能力會(huì)受一定影響。 3、水冷型試驗(yàn)箱在水溫≤28℃、水壓在0.2MPa～0.6MP

• 電動(dòng)汽車電機(jī)ke靠性試驗(yàn)技術(shù)條件

  ?電動(dòng)汽車電機(jī)ke靠性試驗(yàn)檢驗(yàn)項(xiàng)目包含：溫度、濕度和熱態(tài)絕緣電阻，定頻振動(dòng)和掃頻振動(dòng)，鹽霧，防水、防塵等。在對電機(jī)進(jìn)行ke靠性試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)滿足以下技術(shù)條件：1.溫度：當(dāng)周圍環(huán)境溫度在-20℃～+40℃時(shí)，電機(jī)及控制器能長時(shí)間連續(xù)運(yùn)行。2.濕度：電機(jī)及控制器在相對濕度不**過100％的情況下能正常工作，電機(jī)及控制器應(yīng)在其表面溫度**露點(diǎn)的情況下，即電機(jī)及控制器表面產(chǎn)生冷凝也能安全工作。3.鹽霧

• GB/T2423.1低溫試驗(yàn)步驟

  GB/T2423.1是針對電工電子產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，等同于**標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗(yàn)的步驟如下：1.初步檢測。通過目視檢查和（或）按相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行功能檢測來獲知試驗(yàn)樣品的初始狀態(tài)。2.條件試驗(yàn)。試驗(yàn)樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細(xì)規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。如果有試驗(yàn)樣品不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的意外情況，整個(gè)試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間應(yīng)該從試驗(yàn)樣品通電時(shí)開始計(jì)算。通常這種

• 高低溫試驗(yàn)箱測試前的準(zhǔn)備工作

  高低溫試驗(yàn)箱可以用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)，除此之外還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。那么高低溫試驗(yàn)箱在進(jìn)行測試前都有準(zhǔn)備工作呢?高低溫試驗(yàn)箱測試前的準(zhǔn)備工作：1、確定高低溫試驗(yàn)所依據(jù)的檢測標(biāo)準(zhǔn)，若沒有標(biāo)準(zhǔn)可依據(jù)，可以依據(jù)相關(guān)的產(chǎn)品規(guī)范要求。2、確定高低溫試驗(yàn)的程序以及測試的條件，溫度點(diǎn)，試驗(yàn)時(shí)間等。3、確定高低溫試驗(yàn)